图4 木19-20.1井注入剖面解释成果图

从图4木19-20.1井注入剖面解释成果图上可看出，在二级封隔器处同位素追踪曲线及流量均有明显吸水显示，而且井温曲线负异常，说明二级封隔器进水，已失效。

2 反映注水井沾污程度并进行沾污校正

在同位素注入剖面测井中，凡是不直接线性反映注入层注入量的同位素显示、显示减弱或消失现象，称为同位素示踪沾污。按沾污程度可分为轻、一般和严重；按沾污形成机理可分为：吸附沾污和沉淀沾污。按沾污类型可分为管壁、接箍和工具沾污。其沾污在曲线上表现为在非吸水井段及接箍、井下工具位置形成同位素异常高值。由于存在这种不同程度的沾污，使得测井曲线不能真实、准确地反映地层注水情况，更无法取得准确、可靠的动态监测资料，因此需要进行沾污校正。

（1）工具沾污（配水器沾污）

这类沾污在示踪曲线上的表现形态为曲线的幅度由低值突然变为高峰，形似尖刀状，其尖峰对着配水器位置或在其上方（见图5）。同位素注入剖面上可明显看到在配水器位置（粉色标注处），追踪曲线有明显的高尖峰值，对于面积较大且明显的沾污，如果不进行其沾污校正，就会对综合解释结果有所影响，无法确定主要吸水层（见表4）



 图5 西19-20.2井注入剖面解释成果图

表4 沾污前后各小层相对吸水量对比

解释层号

校前相对吸水量

校后相对吸水量

3、4

37.62%

67.16%

7

29.49%

11.3%

10

3.87%

6.43%

13、14

3.37%

5.98%

15

25.65%

9.24%

从表中的可以看出峰值明显的7号和15号解释层在校正前后其相对吸水量有明显的变化，而且在沾污校正后我们可以确定3、4号解释层为本井的主要吸水层。

   （2）油、套管壁沾污

同位素源在下移过程中由于管壁腐蚀或管壁脏、沾有油污等杂质而导致的吸附沾污，表现在非射孔层段示踪曲线幅度大段提高（见图6）。



图6 民15-15井注入剖面解释成果图

上图的蓝色标注处为油、套沾污，针对这类沾污校正，我们通常在油、套管沾污的面积上乘以某一特定系数将其换算为有效沾污面积，然后将其按一定分配比例分配给各注水层段，最后计算出各分层相对吸水量，从而降低沾污对综合解释结论的影响，确保资料的真实性和可靠性。

3 验证大孔道的存在

由于注水井长期注水冲刷，储层地层中的小颗粒物质被带走，使岩石孔隙增加，故而形成大孔道。在测井曲线上表现为，吸水层段同位素没有异常高峰，而井温曲线负异常有吸水显示。这是因为载体粒径小于地层孔喉直径的原因，对此建议更换载体重新测井，以便更准确地判断各层注入量（见图7）。



图7 木147-31井注入剖面解释成果图

根据同位素追踪过程分析，三段均都有吸水，但参考流量及井温数据，第三配水段应有大量吸水，这与同位素追踪曲线结果矛盾。综上所述，怀疑该段存在较大孔道，同位素随水进入地层较深，以致同位素异常不明显。这种情况下建议更换载体粒径重新测井，使同位素吸水剖面测井准确反映各小层相对吸水量。

三、 结论

1、 利用产液剖面测井寻找主要产液层和高含水层，挖掘潜力层是可信的，充分利用产液剖面测井资料，以降低老油井报废机率，最大限度发挥作用。

2、 根据同位素沾污校正，恢复同位素滤积量、地层吸水量、放射性强度三者之间的正比例关系，提高解释结果的准确性，反映地层的吸水状况，指导生产。

3、 注水剖面和产液剖面测井是生产动态测井的重要部分。利用生产动态测井所提供的注水剖面和产液剖面等资料，制定切实可行的综合调整措施，为油田开发部署及制定二次、三次采油方案和配产、配注方案等提供重要依据。

综上所述，在油田注水开发过程中，及时准确掌握油层中水驱油状况是油田高效开发的关键。同位素注入剖面和产液剖面测井对于已形成开采规模的区块有着重要的意义，它能及时的反映油、水井的生产动态，而作为有着复杂地质状况和特点的吉林油田，针对于每个采油厂都有着自己的特点，生产测井的难度也在加大，如何有效的进行沾污校正，如何的准确调整注入方案，如何有效地降低产油量递减的速度，如何对老区块进行进一步的挖潜，这都是值得探讨的问题，也是以后工作的重点。
参考文献：

[1] 姜文达.放射性同位素示踪注水剖面测井.石油工业出版社，1997

[2] 吴锡令.生产测井原理.北京石油工业出版社，1997

[3] 谢荣华.生产测井技术与发展.北京石油工业出版社，1998