学者Lin Feng等认为混合电路满足上述特征并首先提出：离散事件系统(DES)理论可提供一种统一的对数字和模拟电路测试都有效的途径。在其文献中对基于DES理论的电路可测性、故障诊断方法的数学模型、诊断策略等进行了深入的研究，并将DES理论应用于实际测试，适用于芯片和板级测试。利用DES理论可以对同时包含有数字和模拟两种信号的电路进行故障诊断，判定其可测试性，求取其故障覆盖率和最小测试集。 3.混合电路测试与故障诊断发展趋势随着混合信号电路应用广泛，高可靠性对其的测试与故障诊断提出了更高的要求。传统的方法如故障字典法，基于灵敏度分析法，子网络撕裂法等解决一些测试和诊断问题，但是单靠某一种现有的方法是不可能对混合信号电路实现完全的测试与故障诊断。从最近的文献以及技术资料中，可以明显地感觉到对传统测试与故障诊断进行改进，将两种或多种的测试与故障诊断方法相融合，形成新的方法将成为混合信号测试技术发展的一个主要趋势。专家系统、神经网络、模糊理论、小波变换、多传感器融合、Agent等技术已经融入传统的方法并进行了改进与创新，取得了一定的成果。

　　数字电路和模拟电路在测试和故障诊断发展程度不均衡，缺乏统一的故障模型，以及同步等问题成为制约混合信号电路测试与故障诊断发展的主要问题。进一步提高模拟电路测试与故障诊断方法的通用性和可靠性，寻求将数字和模拟电路故障统一建模，测试矢量统一生成，测试响应统一分析的方法和策略等是未来混合信号测试与故障诊断发展的必然趋势。

　　新的测试手段和方法不断提出，给故障诊断策略的发展创造了良好的契机。近几年边界扫描技术平台的建立，解决了内部节点不可测的问题;针对数字、模拟和混合以及系统级测试，均建立了相应的测试标准，极大程度地提高了电路的可测试性。但是值得关注的是边界扫描技术仅是针对测试即电路信息的获取，基于该技术思想的故障诊断策略研究目前逐渐受到了人们的重视，可以预见这将会成为今后混合电路故障诊断研究的一种重要途径。

　　参考文献：

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